目(mu)前，如何測(ce)量石(shi)英(ying)晶(jing)體的好壞在(zai)當代的應用可(ke)謂(wei)是(shi)越來越廣泛，如何測(ce)量石(shi)英(ying)晶(jing)體的好壞是(shi)值(zhi)得我(wo)們好好學(xue)習的，現(xian)在(zai)我(wo)們就(jiu)深(shen)入(ru)了(le)解如何測(ce)量石(shi)英(ying)晶(jing)體的好壞。

外(wai)觀上，整潔，無(wu)(wu)裂紋(wen)，引腳(jiao)牢固可靠(kao)，電阻值為無(wu)(wu)窮大。若用萬用表(biao)測時(shi)的(de)電阻很小甚(shen)接近于(yu)零，則說明被測晶體(ti)漏電或(huo)擊穿，已經損壞(huai)。若所測電阻時(shi)無(wu)(wu)窮大，不(bu)能斷定(ding)晶體(ti)是(shi)否損壞(huai)。此(ci)時(shi)的(de)檢查方法：使用一(yi)(yi)只(zhi)試電筆，其(qi)刀頭插入市電的(de)火線孔(kong)內，用手指拿住晶體(ti)管的(de)一(yi)(yi)腳(jiao)，用另(ling)一(yi)(yi)腳(jiao)接觸(chu)測試電筆的(de)頂(ding)端。如(ru)果(guo)氖泡發紅，一(yi)(yi)般說明晶體(ti)是(shi)好的(de)，如(ru)氖管不(bu)亮，說明晶體(ti)已經壞(huai)掉(diao)。

通用(yong)的(de)方法是(shi)制作一(yi)個振蕩(dang)電路(lu)(lu)，將被測的(de)晶體(ti)接入，看是(shi)否起振。若起振，說明晶體(ti)是(shi)好的(de)，否則是(shi)壞的(de)。一(yi)個常用(yong)的(de)電路(lu)(lu)如(ru)圖：被測晶體(ti)與場效應(ying)管VT構成一(yi)個振蕩(dang)器(qi)。，若晶振良好，振蕩(dang)器(qi)起振，信(xin)號(hao)經(jing)過(guo)C1耦合到VD1，VD2整(zheng)流、C2濾波，在經(jing)過(guo)復合放大電路(lu)(lu)放大，驅動(dong)LED發光(guang)，如(ru)晶體(ti)管損(sun)壞，則振蕩(dang)器(qi)不(bu)能起振， LED不(bu)能發光(guang)。電感(gan)L用(yong)來阻止振蕩(dang)信(xin)號(hao)通過(guo)，只能通過(guo)直流。其(qi)中LL代(dai)表(biao)被測晶體(ti)。